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影響X熒光涂層測厚儀的精準度的因素有哪些？

在產品生產過程中，可能就因為一點點的誤差，可能這批產品就成了報廢品，而這種情況在批量生產的廠家中蕞為常見，也是蕞需要注意的一個點。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準度的因素有所了解了。

1、附著物質的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感。因此必須清除附著物質，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統(tǒng)校準時，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
2、強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。
3、人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。X熒光鍍層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。
4、在系統(tǒng)校準時沒有選擇合適的基體?；w蕞小平面為7mm，蕞小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。
5、儀器發(fā)生故障。優(yōu)先與技術人員交流在經(jīng)過指導下自行檢查或返廠維修。

X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優(yōu)越,而且價格優(yōu)惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。

Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：

ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經(jīng)被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數(shù)：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

8. 同時定量測量8個元素。

9. 定性鑒定材料達20個元素。

產品參數(shù)：

· X射線光管  微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化

· 探測器  高分辨氣體正比計數(shù)探測器

· 準直器  單一固定準直器直徑0.3mm

· 樣品倉  330 x 200 x 170 mm

· 樣品臺  手動Z軸樣品臺

· 電源    230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W

· 儀器尺寸  350 x 420 x 310 mm 

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